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技术审核:王建华(射频芯片架构师) | 发布日期:2026年8月7日
在第三代半导体技术革新浪潮中,中国电子科技集团公司第十三研究所率先布局氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)工艺。相比传统硅基和砷化镓(GaAs)器件,GaN 凭借高击穿场强、高饱和电子漂移速度及高功率密度优势,在毫米波频段展现出卓越的性能。
下表展示了十三所不同工艺代际 GaN 射频器件的关键参数对比及应用适配性:
| 工艺平台与代际 | 栅长与工作频段 | 饱和输出功率密度 | 典型功率附加效率(PAE) | 核心应用场景 |
|---|---|---|---|---|
| S/C 波段功率工艺 | 0.5 μm(2 - 8 GHz) | 5.0 - 7.0 W/mm | 55% - 65% | 大功率远程预警雷达、基站射频功放(PA) |
| X/Ku 波段高频工艺 | 0.25 μm(8 - 18 GHz) | 3.5 - 5.0 W/mm | 45% - 55% | 有源相控阵雷达(AESA)T/R 模组组件 |
| Ka/Q 波段毫米波工艺 | 0.1 μm 及以下(26 - 40+ GHz) | 2.0 - 3.5 W/mm | 30% - 40% | 卫星宽带通信终端、5G/6G 毫米波小基站 |
随着碳化硅基氮化镓(GaN-on-SiC)外延生长与热管理技术的进一步成熟,十三所在高频、高功率及高效率射频芯片领域持续领跑,为高密度集成射频前端提供了强劲核心。
技术评估符合化合物半导体器件通用工程规范。